測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um測量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um測量精度
重復(fù)精度
總放大倍率
物方視場
工作距離
光柵尺解析度
新聞資訊
News時(shí)間:06-16 2023 來自:祥宇精密
測長儀是一種測量物體長度的傳感器,作為一種常用的測量工具,測長儀在生產(chǎn)和實(shí)驗(yàn)中經(jīng)常被使用。在使用過程中,我們也會(huì)遇到一些問題,例如讀數(shù)不準(zhǔn)確、卡尺卡住等等。這時(shí)候該怎么辦呢?本文將從以下三個(gè)方面為大家介紹如何排除測長儀故障。
一、讀數(shù)不準(zhǔn)確當(dāng)我們使用測長儀進(jìn)行測量時(shí),如果發(fā)現(xiàn)讀數(shù)不準(zhǔn)確,可能是由于以下原因:
卡尺沒有歸零:在開始新的測量之前,需要將卡尺歸零。如果沒有歸零,則會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確。
卡尺夾緊力度不夠:如果卡尺夾緊力度不夠,則會(huì)導(dǎo)致卡尺滑動(dòng)或者移位,進(jìn)而影響讀數(shù)的準(zhǔn)確性。
卡尺損壞:如果卡尺本身損壞,則會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確。
針對以上問題,可以采取以下措施:
確保每次開始新的測量前都要將卡尺歸零。
調(diào)整夾緊力度以保證卡尺不滑動(dòng)或者移位。
更換損壞的卡尺。
二、在測量過程中,卡尺突然卡住了。這可能是由于以下原因:
卡尺臟污:如果卡尺表面積累了灰塵、油脂等雜物,則會(huì)導(dǎo)致卡尺滑動(dòng)不暢,甚至卡住。
卡尺損壞:如果卡尺本身損壞,則會(huì)導(dǎo)致其無法正?;瑒?dòng)。
針對以上問題,可以采取以下措施:
定期清洗卡尺表面以保證其滑動(dòng)暢順。
更換損壞的卡尺。
三、顯示屏故障數(shù)字測長儀一般配備有顯示屏,在使用過程中可能會(huì)出現(xiàn)以下故障:
顯示屏閃爍或者出現(xiàn)亂碼:這可能是由于電池電量不足導(dǎo)致的。
顯示屏無法顯示數(shù)值:這可能是由于顯示屏本身故障或者連接線松動(dòng)導(dǎo)致的。
針對以上問題,可以采取以下措施:
更換電池以確保充足電量。
檢查顯示屏連接線是否松動(dòng)或者更換故障的顯示屏。
綜上所述,測長儀在使用過程中可能會(huì)出現(xiàn)各種問題,但是只要采取正確的措施,這些問題都可以得到解決。希望本文能夠?yàn)榇蠹姨峁┮恍﹨⒖肌?/p>
參考文獻(xiàn):
《測量技術(shù)與儀器》(第二版),李春雷主編,機(jī)械工業(yè)出版社,2015年。
《測量技術(shù)手冊》(第三版),陳建新主編,機(jī)械工業(yè)出版社,2016年。
400-801-9255